Improvement of Ion Beam Resolution in FIB Process by Selective Beam Blocking

선택적 빔 차단을 통한 집속이온빔 가공 정밀도 향상

  • 한민희 (연세대학교 기계공학부) ;
  • 한진 (연세대학교 기계공학부) ;
  • 민병권 (연세대학교 기계공학부) ;
  • 이상조 (연세대학교 기계공학부)
  • Published : 2008.11.12