Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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v.28
no.12
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pp.1856-1863
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2004
In the last 50 years, lead-contained solder materials have been the most popular interconnect materials used in the electronics industry. Recently, lead-free solders are about to replace lead-contained solders for preventing environmental pollutions. However, the reliability of lead-free solders is not yet satisfactory. Several researchers reported that lead-contained solders have a good fatigue property. The others published that the lead-free solders have a longer thermal fatigue life. In this paper, the reason for the contradictory results published on the estimation of fatigue life of lead-free solder is investigated. In the present study, fatigue behavior of 63Sn37Pb, and two types of lead-free solder joints were compared using pseudo-power cycling testing method, which provides more realistic load cycling than chamber cycling method does. Pseudo-power cycling test was performed in various temperature ranges to evaluating the shear strain effect. A nonlinear finite element model was used to simulate the thermally induced visco-plastic deformation of solder ball joint in BGA packages. It was found that lead-free solder joints have a good fatigue property in the small temperature range condition. That condition induce small strain amplitude. However in the large temperature range condition, lead-contained solder joints have a longer fatigue life.
To investigate the ultrastructural changes of kidney and clarify to a cause of its changes in lead intoxicated rats, the 0.5% lead acetate administed orally to the rats and those were sacrifled at 2 day, 1, 2, 4, 6 and 8 week after the treatment of lead acetate. Each extirpated kidney was histopathologically examined under the electron microscopy and histochemical examination was also carried out. Concomitantly, the activity of free radical metabolizing enzyme was determined. The blood levels of lead concentration showed a gradual increase from the first group reaching the plateau at the one or two week group with the slightly decreasing value throughout the whole course of the experiment. And the urinary ALA concentration showed a gradual increase from the first group to the 8 week group. In the kidney tissue of rat sacrified at 6 week, the proximal tubular cells showed dilatation of endoplasmic reticulum, mitochondrial swelling, increased numbers of secondary lysosomes and myelin figure-like residual bodies on electron microscope and oxygen free radicals are identified by histochemistry on light microscope whereas there were no differences in the activity of catalase and glutathione peroxidase between the lead acetate treated group and control group. But the activity of xanthine oxidase was more increased in lead acetate treated rats than control group. Furthermore, the superoxide dismutase activity was significantly increased in the experimental group than the control group. In conclusion, it is assumed the kidney damage in lead intoxicated rat may be induced by free radicals.
Sung-Joon Kim;Tae-Ho Han;Hyo-Won Lee;Yu-Whan Oh;Seung-Chul Kim;Jung-Min Kim
Journal of radiological science and technology
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v.47
no.4
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pp.249-254
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2024
This study compared the X-ray shielding abilities of the shields using Computed Radiography(CR) System after manufacturing a lead-free boards using gypsum and BaSO4, an eco-friendly X-ray shielding material. Total six lead-free boards were manufactured with BaSO4 concentrations of 25 %, 50 % and thickness of 10 mm, 15 mm, 20 mm respectively, and additional thickness of 1.0 mm, 1.5 mm, 2.0 mm leads were prepared. In the experiment, Nine shields were placed on the Image Plate and placed in a Computed Tomography(CT) Room where CT scans were performed for 2 weeks. After that, the X-ray image of the shields were obtained through CR Reader, and Pixel Value(PV) were measured to evaluated the X-ray shielding abilities of the lead-free shields. The criterion for evaluating the shields was determined by comparing PV of lead-free board to that of the 1.5 mm thickness lead used in the CT rooms. As a result of the experiment, the PV of the lead-free boards within 25 % of the BaSO4 concentration and within 10 mm of the thickness were not enough to be used as X-ray shields in the CT Room because they did not reach the PV of the 1.5 mm thickness lead. BaSO4 concentration of 50 % at 20 mm thickness showed PV of 1.5 mm lead thickness or more indicating that it has an X-ray shielding ability to replace lead in the CT room
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2004.09a
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pp.93-99
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2004
At present, LG Electronics pushes ahead to eliminate the Pb(Lead) -a hazardous material- from all products. Especially, we have performed to select the optimum standard composition of lead free alloy for the application to products for about 3 years from 2000. These days, we have the chance for applying to the mass-production. This project constructed the system for applying the lead free solders on consumer electronic products, which is one of the major products of the LG Electronics. To select the lead free solders with corresponding to the product features, we have passed through the test and applied with Sn-3.0Ag-0.5Cu alloy system to our products, and for the application to the high melting temperature composition, we secured the thermal resistance of the many parts and substrate and optimized the processing conditions. We have operated the temperature cycling test and the high temperature storage test under the standards to confirm the reliability of the products. On these samples, we considered the consequence of our decision by the operating test. For the long life time of the product, we have operated the temperature cycling test at $-45^{\circ}C-+125^{\circ}C$, 1 cycle/hour, 1000 cycles. Also we have tested the tin whisker growth about lead free plating on lead finish. We have analyzed with the SEM, EDS and any other equipment for confirming the failure mode at the joint and the tin whisker growth on lead free finish.
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2003.04a
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pp.1-19
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2003
The electronic market thrust for many hybrid circuit manufacturers is changing because commercial market segments such as telecommunications, automotive and consumer electronics have increased the demand world wide for environmentally friendly thick film products. This, in turn, places a stronger emphasis on the material suppliers within the circuit fabrication industry to provide toxin free products with equal or higher performance than traditional technology. A new group of silver based thick film conductors, which are totally free of such toxins as cadmium, nickel and Bead have been developed to meet new environmental requirements. Traditional thick film products and newly developed toxin free compositions will be compared and data will be presented. To evaluate their performance, both groups of conductors were tested for solder acceptance, leach resistance and aged adhesion with standard lead-containing solder and higher temperature lead-free solder.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.12
no.1
s.34
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pp.65-71
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2005
At present, Electronic industries push ahead to eliminate the Pb(Lead) -a hazardous material-from all products. Especially, we have performed to select the optimum standard composition of lead free alloy for the application to products for about 3 years from 2000. These days, we have the chance for applying to the mass-production. This project constructed the system for applying the lead free solders on consumer electronic products, which is one of the major products of the LG Electronics. To select the lead free solders with corresponding to the product features, we have passed through the test and applied with Sn-3.0Ag-0.5Cu alloy system to our products, and for the application to the high melting temperature composition, we secured the thermal resistance of the many parts and substrate and optimized the processing conditions. We have operated the temperature cycling test and the high temperature storage test under the standards to confirm the reliability of the products. On these samples, we considered the consequence of our decision by the operating test. For the long life time of the product, we have operated the temperature cycling test at $-45^{\circ}C\;-\;+125^{\circ}C$, 1 cycle/hour, 1000 cycles. Also we have tested the tin whisker growth about lead free plating on lead finish. We have analyzed with the SEM, EDS and any other equipment for confirming the failure mode at the joint and the tin whisker growth on lead free finish.
Kim, Hwang-Pill;Ahn, Chang Won;Hwang, Younghun;Lee, Ho-Yong;Jo, Wook
Journal of the Korean Ceramic Society
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v.54
no.2
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pp.86-95
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2017
Active search for lead-free piezoceramics over the last decade has harvested a considerable amount of achievements both in theory and in practice. Few would deny that those achievements are highly beneficial, but agree that this quest of developing the lead-free piezoceramics in replace for PZTs is successfully completed. Nevertheless, few would clearly state where this quest should be directed in our next move. A source of this uncertainty may originate from the fact that it is still not clear how good is good enough to beat PZTs. In this short review, we analyzed the existing literature data to clearly locate the current state of the art of lead-free piezoceramics in comparison to PZT-based piezoceramics. Four strategies of a potential importance were suggested and discussed to help researchers plan and design their future research on lead-free piezoceramics with a recently reported exemplary work.
Environmentally benign lead-free solder coated ribbon (e. g. SnCu, SnZn, SnBi${\cdots}$) has been intensively studied to interconnect cells without lead mixed ribbon (e. g. SnPb) in the crystalline silicon(c-Si) photovoltaic modules. However, high melting point (> $200^{\circ}C$) of non-lead based solder provokes increased thermo-mechanical stress during its soldering process, which causes early degradation of PV module with it. Hence, we proposed low-temperature conductive paste (CP) based tabbing method for lead-free ribbon. Modules, interconnected by the lead-free solder (SnCu) employing CP approach, exhibits similar output without increased resistivity losses at initial condition, in comparison with traditional high temperature soldering method. Moreover, 400 cycles (2,000 hour) of thermal cycle test reveals that the module integrated by CP approach withstands thermo-mechanical stress. Furthermore, this approach guarantees strong mechanical adhesion (peel strength of ~ 2 N) between cell and lead-free ribbons. Therefore, the CP based tabbing process for lead free ribbons enables to interconnect cells in c-Si PV module, without deteriorating its performance.
Proceedings of the Korean Society for Quality Management Conference
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2004.04a
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pp.298-301
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2004
European Union Member States shall ensure that, from 1 July 2006, new electrical and electronic equipment put on the market does not contain mercury, cadmium, lead, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls(PBB) or polybrominated diphenyl ethers(PBDE) (by Directive 2002/95/EC of The European Parliament and the Council of 27 january, 2003 on the restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment ). So, It is important to develop lead free solder and to assure the reliability of appliance. But lead free solder(i.e. Sn-3Ag-0.5Cu) have some problems such as lift off, whisker, migration and crack, etc. In this paper we discuss the reliability assurance method in lead free solder and appliance.
Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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2005.06a
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pp.385-392
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2005
The restriction of the use of hazardous substances in electrical and electronic equipment legislation mandates the substitution of lead and other hazardous substances in electronics products by July 2006. Due to this legislative pressure, the electronics industry is moving to adoption of lead free solders. In this paper, we investigated a flux to restrict generating electrochemical migration in lead-free solder. The lead-free solders used in this study were Sn-0.7Cu-0.01P and Sn-3.0Ag-0.5Cu. To measure the resistance of electrochemical migration, the dew-cycle test and water drop test were adopted. As the result, now flux having high durable of electrochemical migration was developed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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